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Beschreibung
BeschreibungSIMS instrument scheme 600x600.png
Title: SIMS - Secondary Ion Mass Spectrometry, instrument scheme
Author: Twisp
Date: 06.02.2006
Datum
6. Februar 2006 (Original-Hochladedatum)
Quelle
Die Autorenschaft wurde nicht in einer maschinell lesbaren Form angegeben. Es wird angenommen, dass es sich um ein eigenes Werk handelt (basierend auf den Rechteinhaber-Angaben).
Urheber
Die Autorenschaft wurde nicht in einer maschinell lesbaren Form angegeben. Es wird Twisp als Autor angenommen (basierend auf den Rechteinhaber-Angaben).
Beschreibung
Cesium ion source
Duoplasmatron
Electrostatic lens
Sample
Electrostatic sector - ion energy analyser
Electromagnet - mass analyser
Electron multiplier / Faraday cup
Channel-plate / Fluorescent screen - ion image detector
Lizenz
Public domainPublic domainfalsefalse
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Kurzbeschreibungen
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