Nanometrologie: Unterschied zwischen den Versionen

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Die dimensionelle '''Nanometrologie''' (von: [[Altgriechische Sprache|altgriech.]] νᾶνος [''nános''] „Zwerg“ sowie [[Griechische Sprache|griech.]]: μέτρον ''métron'' „[[Maß]], -messer“) ist die Wissenschaft und Anwendung von Messungen der Dimensionen von Objekteigenschaften, Abständen und Verschiebungen im Bereich 1 bis 1000 nm<ref>Harald Bosse, Günter Wilkening: ''Dimensionelle Nanometrologie in der PTB – eine Übersicht.'' In: ''Technisches Messen'' 73, Nr. 1, 2006, S.4-18</ref>. Mit einer sich entwickelnden [[Nanotechnologie]] entsteht ebenfalls der Bedarf nach einer Qualitätssicherung in der Nanometer-Dimension. Metrologische Methoden und Techniken sind aufgrund von physikalischen Skaleneffekten nicht ohne weiteres aus der "Makro"-Dimension übertragbar. Die Nanometrologie ist ein Gebiet aktueller Forschung.
Die dimensionelle '''Nanometrologie''' (von: [[Altgriechische Sprache|altgriech.]] νᾶνος [''nános''] „Zwerg“ sowie [[Griechische Sprache|griech.]]: μέτρον ''métron'' „[[Maßeinheit|Maß]], -[[Messgerät|messer]]“) ist die Wissenschaft und Anwendung von Messungen der Dimensionen von Objekteigenschaften, Abständen und Verschiebungen im Bereich 1 bis 1000 nm<ref>{{Literatur |Autor=Harald Bosse, Günter Wilkening |Titel=Dimensionelle Nanometrologie in der PTB – eine Übersicht |Sammelwerk=Technisches Messen |Band=73 |Nummer=1 |Datum=2006 |Seiten=4–18 |DOI=10.1524/teme.2006.73.1.4}}</ref>. Mit einer sich entwickelnden [[Nanotechnologie]] entsteht ebenfalls der Bedarf nach einer Qualitätssicherung in der Nanometer-Dimension. Metrologische Methoden und Techniken sind aufgrund von physikalischen Skaleneffekten nicht ohne weiteres aus der "Makro"-Dimension übertragbar. Die Nanometrologie ist ein Gebiet aktueller Forschung.


== Einzelnachweise ==
== Einzelnachweise ==
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== Weblinks ==
== Weblinks ==
*[http://www.nanometrologie.de/ www.nanometrologie.de]
* {{Internetquelle |url=https://www.ptb.de/cms/ptb/fachabteilungen/abt4/fb-42/ag-423/publikationen-423/uebersichtsartikel-quantitative-mikroskopie-und-dimensionale-nanometrologie.html |hrsg=ptb.de |titel=Übersichtsartikel: Quantitative Mikroskopie und dimensionale Nanometrologie |zugriff=2018-02-04 |abruf-verborgen=1}} (Literatursammlung dt./en.)
*[http://www.ebn.din.de/sixcms_upload/media/2929/NANOSTRAND.pdf Projekt Nano-Strand - Roadmaps for the Standardization and Metrology of Nanotechnologies] (pdf-Datei, 480 kB)
* {{Internetquelle |url=https://www.tu-braunschweig.de/mib/lena/ |titel=Homepage des Labors für Nanometrologie: Laboratory for Emerging Nanometrology - LENA |hrsg=TU Braunschweig |zugriff=2021-05-12 |abruf-verborgen=1 |sprache=de}}
* {{Literatur |Online=https://www.ptb.de/cms/forschung-entwicklung/themenbereiche-der-metrologie/nanometrologie.html |Titel=Arbeits- und Forschungsprogramm 2015 – 2017 |Seiten=56ff |Hrsg=Physikalisch-Technischen Bundesanstalt |Datum=2015-04 |Sprache=de}}
* {{Literatur |Titel= Nanometrologie |Sammelwerk=PTB-Mitteilungen |Band=121 |Nummer=2 |Datum=2011-06 |Sprache=de |Format=pdf |Hrsg=Physikalisch-Technischen Bundesanstalt |Online=https://www.ptb.de/cms/fileadmin/internet/publikationen/ptb_mitteilungen/mitt2011/Heft2/PTB-Mitteilungen_2011_Heft_2.pdf |KBytes=7600}}


[[Kategorie:Metrologie]]
[[Kategorie:Metrologie]]

Aktuelle Version vom 12. Mai 2021, 12:20 Uhr

Die dimensionelle Nanometrologie (von: altgriech. νᾶνος [nános] „Zwerg“ sowie griech.: μέτρον métronMaß, -messer“) ist die Wissenschaft und Anwendung von Messungen der Dimensionen von Objekteigenschaften, Abständen und Verschiebungen im Bereich 1 bis 1000 nm[1]. Mit einer sich entwickelnden Nanotechnologie entsteht ebenfalls der Bedarf nach einer Qualitätssicherung in der Nanometer-Dimension. Metrologische Methoden und Techniken sind aufgrund von physikalischen Skaleneffekten nicht ohne weiteres aus der "Makro"-Dimension übertragbar. Die Nanometrologie ist ein Gebiet aktueller Forschung.

Einzelnachweise

  1. Harald Bosse, Günter Wilkening: Dimensionelle Nanometrologie in der PTB – eine Übersicht. In: Technisches Messen. Band 73, Nr. 1, 2006, S. 4–18, doi:10.1524/teme.2006.73.1.4.

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